SCALE: Self-Supervised Constraint-Aware Layout GEneration for Local P&R DRV Fixing at Advanced Nodes

Chia-Tung Ho, Haoyu Yang, Guanglei Zhou, Yoshi Nishi, Yaguang Li, Walker Turner, Cunxi Yu, Yiran Chen, Brucek Khailany

arXiv:2607.21850 · 2026-07-27 공개 · arXiv · PDF

llm self-supervised-learning semiconductor-manufacturing eda layout-generation drc-violation sub-2nm constraint-aware

Abstract

As semiconductor manufacturing advances toward sub-2nm nodes, local place-and-route (P&R) design-rule violation (DRV) fixing is increasingly limited by complex rule interactions, dense multi-layer routing geometries, and foundry-specific constraints. While Large Language Models (LLMs) have recently demonstrated strong capabilities in EDA scripting and documentation, their application to visual layout understanding remains largely unexplored: diagnosing DRC violations from layout imagery demands precise geometric reasoning and foundry-specific rule knowledge absent from general-purpose VLM training. We propose SCALE, a framework with a self-supervised layout-generation stage for local DRV fixing at advanced nodes. Multi-layer layout geometry is serialized into structured text, and a fine-tuned language model learns to reconstruct randomly masked polygons from surrounding BEOL context alone without violation labels. At inference, natural-language rule constraints and high-temperature sampling steer generation toward diverse, violation-prone layout variants validated by an industrial signoff DRC checker, producing DRC-annotated layout--violation pairs used to fine-tune a domain-adapted DRC-VLM. This VLM provides rule-aware geometric guidance for local DRV repair, boosting state-of-the-art agents' solve rates by +12--25% (up to 97%) on 100 real sub-2nm cases spanning enclosure, spacing, width, and color-spacing violations.

한국어 요약

한 줄 요약

SCALE은 sub-2nm 노드에서 자동 P&R DRV 수정을 위한 자기감독적 레이아웃 생성과 도메인 적응 VLM 기반의 프레임워크이다.

핵심 기여도

핵심 아이디어

SCALE은 기존 VLM이 시각 레이아웃에서 정확한 DRC 위반을 인식하지 못하는 문제를 해결하기 위해, 레이아웃-위반 쌍을 생성하는 자기감독 학습 파이프라인을 도입한다. 이는 레이아웃의 후단(BEOL) 맥락만을 사용하여 마스킹된 다각형을 재구성하는 방식으로, 레이블 없이도 다양한 위반 사례를 생성한다. 생성된 데이터는 DRC-VLM이라는 도메인 적응된 VLM으로 학습되어, 실제 레이아웃에서 위반을 정확히 분석하고 수정을 유도한다. 이는 기존 자동 수정 엔진이 조건부 규칙을 처리하지 못하는 문제를 해결한다.

기술적 접근법

주요 결과

의의 및 한계

SCALE은 sub-2nm 노드에서 복잡한 조건부 규칙을 처리하는 새로운 데이터 기반 접근법을 제시하며, 기존 엔진이 커버하지 못하는 복잡한 DRV를 해결할 수 있는 가능성을 보여준다. 특히, 레이아웃-위반 데이터가 부족한 문제를 자기감독 학습으로 해결함으로써 도메인 적응 VLM의 활용 가능성을 확장한다. 그러나 생성된 데이터가 실제 산업 레이아웃에만 제한되며, 대규모 네트 레벨 수정에는 적용되지 않음.

실용적 활용

SCALE은 반도체 설계 업계에서 자동 P&R DRV 수정을 위한 도구로 활용 가능하며, 특히 sub-2nm 노드에서 복잡한 조건부 규칙을 처리하는 데 유용하다. 또한, 다른 EDA 작업(예: 레이아웃 재설계, 패턴 분석)에도 확장 가능하다.